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  1. KAP单晶不同位错密度区域点阵常数变化的“就地”双晶测量

  2. 本文报道用X射线双晶衍射的(n,-n)几何排列对不同位错密度区域点阵常数的测试结果。从一对(001)晶片的(001)晶面的对称反射的测试结果表明,不同位错密度区域的点阵常数变化的最大范围为3.8～1.92×10-4nm。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-04
    • 文件大小：889856
    • 提供者：weixin_38550834