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  1. LED 芯片封装缺陷检测方法研究.pdf

  2. 引脚式LED 芯片封装工艺中封装缺陷不可避免。基于p
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2019-09-05
    • 文件大小:6291456
    • 提供者:weixin_38744375
  1. LED芯片封装缺陷检测方法研究

  2. 本文在LED芯片非接触检测方法的基础上,在LED引脚式封装过程中,利用p-n结光生伏特效应,分析了封装缺陷对光照射LED芯片在引线支架中产生的回路光电流的影响,采用电磁感应定律测量该回路光电流,实现LED封装过程中芯片质量及封装缺陷的检测。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-25
    • 文件大小:104448
    • 提供者:weixin_38602982
  1. LED芯片封装缺陷检测方法研究

  2. 目前,LED产业的检测技术主要集中于封装前晶片级的检测[4-5]及封装完成后的成品级检测[6-7],而国内针对封装过程中LED的检测技术尚不成熟。本文在LED芯片非接触检测方法的基础上[8-9],在LED引脚式封装过程中,利用p-n结光生伏特效应,分析了封装缺陷对光照射LED芯片在引线支架中产生的回路光电流的影响,采用电磁感应定律测量该回路光电流,实现LED封装过程中芯片质量及封装缺陷的检测。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-24
    • 文件大小:144384
    • 提供者:weixin_38723461
  1. 显示/光电技术中的基于LED芯片封装缺陷检测方法研究

  2. LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。封装工艺是影响LED功能作用的主要因素之一,封装工艺关键工序有装架、压焊、封装。由于封装工艺本身的原因,导致LED封装过程中存在诸多缺陷(如重复焊接、芯片电极氧化等),统计数据显示:焊接系统的失效占整个半导体失效模式的比例是25%~30%,在国内[3],由于受到设备和产量的双重限制,多数生产厂家采用人工焊接的方法,焊接系统不合格
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-06
    • 文件大小:265216
    • 提供者:weixin_38612304
  1. 基于LED芯片封装缺陷检测方法研究

  2. LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。封装工艺是影响LED功能作用的主要因素之一,封装工艺关键工序有装架、压焊、封装。由于封装工艺本身的原因,导致LED封装过程中存在诸多缺陷(如重复焊接、芯片电极氧化等),统计数据显示:焊接系统的失效占整个半导体失效模式的比例是25%~30%,在国内[3],由于受到设备和产量的双重限制,多数生产厂家采用人工焊接的方法,焊接系统不合格
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:347136
    • 提供者:weixin_38674569