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  1. MIL-STD-883J

  2. MIL-STD-883J:器件包括:弹片、多芯片、涂层、混合微电路、微电路阵列、组成电路及阵列的元件等。对这些器件进行基本的环境试验,以确定其抗自然元素有害影响的能力、机械试验及电试演、工艺及培训程序,及为保证产品质量和可靠性的均匀性的必要控制及限制。
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2013-12-04
    • 文件大小:6291456
    • 提供者:u013043285
  1. MIL-STD-883J

  2. MIL-STD-883J
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2014-10-14
    • 文件大小:6291456
    • 提供者:baidu_21987399
  1. MIL-STD-883J w/CHANGE 4

  2. DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS Purpose. This standard establishes uniform methods, controls, and procedures for testing microelectronic devices suitable for use within Military and Aerospace electronic systems including bas
  3. 所属分类:制造

    • 发布日期:2015-03-19
    • 文件大小:6291456
    • 提供者:lingfeng888888
  1. Test Method Standard Microcircuits MIL-STD-883J.pdf

  2. This standard establishes uniform methods, controls, and procedures for testing microelectronic devices suitable for use within Military and Aerospace electronic systems including basic environmental tests to determine resistance to deleterious effe
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2020-03-04
    • 文件大小:5242880
    • 提供者:weixin_46476986
  1. Leak Test检漏美军标883J解读

  2. 氦气检漏的相关标准,MIL-STD-883J中关于氦气检漏的相关说明
  3. 所属分类:电信

    • 发布日期:2014-03-14
    • 文件大小:953344
    • 提供者:aiyingtao