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  1. NI：射频集成度趋高 PXI方案显优势

  2. 在PXI TAC 上，NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远 先生围绕无线技术的最新发展展开讨论，针对渐趋复杂的无线测试和不同无线设备的测试方案，深入探讨了如何通过 NI PXI测试策略的优化来提升测试效率。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-30
    • 文件大小：500736
    • 提供者：weixin_38722891