为了了解e + e- ation灭中的J /ψ+ Xnon-cc生成机理，在这项工作中，我们建议测量J /ψ生成的横截面，而无需关联夸克对，而对数量没有任何限制。 最终状态事件中带电迹线的数量，除了来自J /ψ衰减的μ+ μ−，我们在这里将其称为B工厂中轻强子的J /ψ产生。 我们还提出了由于ψ（2S）导致的QED背景的详细研究，其中ψ（2S）通过e + e-→ψ（2S）+γ和e + e-→ψ（2S）产生 + ff′（f =轻质轻夸克），以及由于QED对q = u，d，s夸克的直接J /ψ+ q