您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. SiC纳米线弯曲变形下的电学性能研究

  2. SiC纳米线弯曲变形下的电学性能研究,高攀,王疆靖,在透射电子显微镜下,利用纳米操控系统对单根SiC纳米线进行了系列操控,包括单根纳米线的选取、固定、应变加载等,并对其电学输运
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-03-10
    • 文件大小:551936
    • 提供者:weixin_38656142