在研发时分-长期演进（TD-LTE）无线终端综合测试仪时，一致性测试有着非常重要的作用。基于此，选用规范描述语言（SDL）与树表描述语言TTCN（Tree Tabular Combine Notation）对接入层安全性的设计进行了仿真测试，提出了一种基于SDL+TTCN的测试方法。最后采用ARM Workbench IDE编译软件在ARM1176JZF-S芯片上对测试后的效果进行了验证。