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  1. v777集成电路测试系统软硬件使用说明

  2. v777集成电路测试系统软硬件使用说明 v777集成电路测试系统软硬件使用说明

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-01-25
    • 文件大小：413696
    • 提供者：ahhfdkx

  1. V777测试机手册

  2. V777是很老很老的测试机了，但是应该还是有很多朋友用得到，这里分享出来，我留着也看不到

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2011-10-24
    • 文件大小：6291456
    • 提供者：alai7150

  1. V777基本原理

  2. V777集成电路测试系统 测试时钟 10MHz 基准时钟 100MHz 最大128通道(Input/Output) 2器件同时并行测试(标准环境下) 波形信号即时处理(具备波行存储器) 性能稳定，高可靠性，高精度 测试效率高,可以大量节省投资 操作简单，易于掌握 节省空间，移动方便 功耗低，家用电即可

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-12-17
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：xghgp

  1. EDA/PLD中的基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC 芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC 芯片的研发具有十分重要的意义。 　　目前，波形测量和分析协会已提出了DAC 测试的技术标准IEEE Std.1057，里面的术语和测试方法为DAC 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器，但是测试精度不高；大规模芯片测试时则使用自动测试设备（ATE），但是成本很高；最近提出的DAC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-03
    • 文件大小：217088
    • 提供者：weixin_38562492

  1. 基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

  2. D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC 芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC 芯片的研发具有十分重要的意义。 　　目前，波形测量和分析协会已提出了DAC 测试的技术标准IEEE Std.1057，里面的术语和测试方法为DAC 测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器，但是测试精度不高；大规模芯片测试时则使用自动测试设备（ATE），但是成本很高；近提出的DAC

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：283648
    • 提供者：weixin_38639872