我们提出了一种利用偏导数滤光片在X射线显微镜中进行差分相衬成像的方法，该结构与可见光中使用的结构相似，不同之处在于滤光片的相位变化在X射线范围内不能忽略。 然而，事实证明，滤波器的相位延迟不会干扰其相位衬度成像功能，甚至可以在某种程度上增强信号。 理论公式和相应的数值模拟表明，该方法能够执行具有纳米级分辨率的特征微分显微相位成像。 为了追求高图像质量，还详细检查了可管理参数。