利用X射线检测制导光纤在缠绕过程中产生的各种缺陷。通过对传统X射线仪拍摄图像的分析以及对点X射线扫描检测的模拟, 从理论上分析了X射线扫描检测光纤缠绕缺陷的可行性, 并进一步提出通过二维扫描对缺陷进行定位, 同时考虑了适当的匝间间隙对检测结果的影响, 并最终给出了相关的部分实验结果, 对实验中出现的相关问题进行了分析研究。