XENON1T暗物质实验旨在通过与氙原子的低能相互作用检测弱相互作用的大颗粒（WIMP）。 为了检测到这种罕见事件，有必要使用放射纯材料来最大程度地减少预期WIMP信号区域内的背景事件。 在本文中，我们报告了XENON1T实验广泛的材料放射分析活动的结果。 使用伽马射线能谱和质谱技术，对多种材料中一百多个样品中的痕量放射性杂质进行了系统的测量。 所测量的活动允许在检测器构造阶段中严格选择和放置材料，并通过蒙特卡洛模拟为XENON1T检测灵敏度估计提供输入。