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  1. itc测试应用集成

  2. itc测试应用集成
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2017-04-10
    • 文件大小:443392
    • 提供者:a527181404
  1. 基于NSGA-II算法的IP核测试优化研究

  2. IP核集成化的SoC测试,测试时间与测试功耗是两个相互影响的因素。多目标进化算法能够处理相互制约的多目标优化问题。在无约束条件下,对IP核的测试时间与测试功耗建立联合优化模型,并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法(Non-dominated Sorting Genetic Algorithm II, NSGA-II)对模型进行求解。通过应用ITC’02标准电路中的h953做应用验证,结果表明该方法能够给出模型的均衡解,证明了模型的实用性和有效性。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-28
    • 文件大小:786432
    • 提供者:weixin_38657376