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上传时间: 2021-03-09
详细说明：摘要-闪存的每个单元仅在名义上给定数量的写/擦除周期中幸存。 超过标称寿命，闪存仍可以记录数字信息，但是误码率随着写/擦除周期的增加而Swift增加。 擦除码是用于恢复损坏的数据的常规方法，但是其冗余数据会产生大量的“额外写入”，这使得擦除码似乎不适合写敏感型闪存。 我们认为，擦除码会在两个相互矛盾的方向上影响闪存的寿命：其固有的纠错能力使闪存能够生存超过标称寿命，而其冗余数据会通过增加写入/写入而耗尽闪存的寿命。擦除周期。 本文建立了一个理论模型来分析这两个方面，并证明了擦除代码能够将闪存的标称寿命延长多达30倍。
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