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内部损耗系数的测量半导体光放大器的内部损耗系数的测量
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上传时间: 2021-03-03
详细说明：在较宽的注入电流范围内，通过实验和理论研究了半导体光放大器（SOA）的内部光损耗，提出了一种没有噪声系数谱的新型测量方法。 从理论上考虑SOA的内部损耗，推导了输入输出特性的修正公式。 根据实际测量的输入输出特性曲线，在不同注入电流下测量了SOA的内部损耗系数。 结果表明，随着注入电流的增加，SOA的内部损耗系数减小。
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