文件名称:
嵌入式测试技术为串行I/O提供真正高效价值
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文件大小: 180kb
下载次数: 0
上传时间: 2021-02-21
详细说明：火龙果软件工程技术中心 随着技术的进步，电子行业自身在不断地发明创新。嵌入式系统设计师最清楚这一点，许多人开发的应用之多甚至可以横跨几代电子技术和微处理器技术。一路看过来，随着基本的硬件和软件的演进，当然也出现了许多不同的系统开发和调试方法。如今，绝大多数微处理器整合有片上调试资源，从而设计师可以利用低成本的硬件接口进行开发和测试。这类被称作为嵌入式测试的调试，极大地有助于嵌入式系统的增长，并将使带有高速串行I/O的设计系统具有更高的效率。如今，半导体硅片成本的降低使得电子行业可以利用通信行业30多年发展所取得的一些先进技术，特别是串行接口。就当数字系统拼命地与大规模、高速数据传输的光系统
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