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上传时间: 2021-02-11
详细说明：报道了掠入射软X光平面镜反射率标定实验.实验利用北京同步辐射装置(BSRF)-3W1B束线及反射率计靶室,在束流35 mA～110mA、贮存环电子能量2 GeV专用光运行模式下,在50 eV～850eV能区分四个能段,进行了5°掠入射Ni平面镜反射率标定实验.标定过程中用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管作探测器,输出信号提高2～3个量级,可标定能区从150eV～270 eV拓展到50 eV～850 eV,给出了完整的 5°Ni平面镜反射率标定曲线.最后把实验数据与理论计算作了比对并进行了分析.
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