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铝衰减膜表面氧化对软X光透过率的影响与修正
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文件大小: 843kb
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上传时间: 2021-02-11
详细说明：对用不同方法制备的软X光激光实验用的Al衰减膜样品，用Auger电子能谱(AES)结合氩离子束刻蚀进行了组分的表面和深度分布分析，结果表明表面氧化层主要由Al2O3组成，氧化达到饱和时的氧化层厚度≈7.5 nm。由于在软X光波段内，氧的吸收系数比铝大一个多数量级，这一氧化层对软X光透过率的影响甚大。将AES测试结果作为参数，使用公式I=I0.exp［-μ(E).(ρd)］对X光透过强度进行修正。同步辐射软X光对样品透过率的直接测量表明，对于透过率大于20%的Al膜，直接测量结果与按修正公式计算的结果在最大偏差11%范围内符合。
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