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一种简便的计算层析系统X射线硬化校正方法
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文件大小: 817kb
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上传时间: 2021-02-10
详细说明：以实物拍摄为依据, 用一种最简便的修正方法解决计算机X射线层析术成像时由于硬化效应引起的切片图灰度失真问题。用高性能数字X射线机FAXITRON MX-20(射线管焦点20 μm, 探测板灰度等级16位)对不同厚度的物体进行透射成像, 测得对应的透射光强度, 并利用新创的指数拟合法得到理想的拟合曲线, 由此推导硬化效应的指数校正公式;最后利用实验室的微型计算机层析设备进行扇形束扫描, 并逆投影重建生成计算层析断层图像, 验证了该校正方法的实用性。该指数拟合法的误差不到常用的二阶多项式拟合法的1/3, 对物体计算层析重构, 硬化校正以前有明显的“杯状”伪迹, 切片灰度不均匀, 用指数法修正以后该
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