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上传时间: 2021-02-09
详细说明：与单角度动态光散射技术相比，多角度动态光散射(MDLS)颗粒测量技术能够提高颗粒粒度分布的测量准确性。但在MDLS技术中，测量角度的选择常常与被测颗粒体系的分布有关。对100 nm、500 nm的单峰模拟分布和300 nm与600 nm混合的双峰模拟分布的颗粒体系，分别在1、3、6、9个散射角条件下进行了测量。颗粒粒度反演结果表明，随着散射角个数的增大，颗粒粒度分布更趋于真实的颗粒粒度分布。对数量比为51的100 nm与503 nm双峰分布的聚苯乙烯颗粒，分别在1、3、5、10个散射角条件下进行了测量，实测结果表明采用单角度测量只能得到单峰分布，3个及更多散射角可得到双峰分布，并且双峰的数量比随散射角数量的增加逐渐趋近真实的数量比。因此，MDLS颗粒测量技术能够改善颗粒粒度分布的测量结果，但这种改善程度会随散射角的增多逐渐降低。由于散射角个数的增多会增加散射角的校准噪声和光强相关函数的测量噪声，因而会导致在有些情况下颗粒粒度分布的测量结果反而变差。
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