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上传时间: 2021-02-08
详细说明：研制了一台用于测量平均粗糙度值在4~10微英寸范围内的半壳体整个内表面粗糙度的激光表面光洁度量具。制造了可与国家标准局度规测量进行迹线比对的标准。这种量具采用激光束角度散射原理，它的设计消除了由于零件反射程度不同和激光强度的改变而造成的误差。使用微处理机，根据所确定的标准提取数据，并处理来自测试零件的散射信息，从而在输出纸带上获得零件表面粗糙度的连续迹线。该量具巳安装在产品检验实验室，对它所做的统计性估价表明，粗糙度平均值的重复性为±0.5微英寸。研制该量具所依据的原理和理论亦适用于其他零件结构和不同粗糙度范围。
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