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基于连续统去除法的苹果树冠SPAD 高光谱估测
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上传时间: 2021-02-07
详细说明：准确、快捷、实时地对苹果树冠层土壤和作物分析仪器开发(SPAD)值进行高光谱估测，对苹果树的长势监测具有重要意义。连续2 年测量了62 个果园的196 棵苹果树冠层光谱反射率及SPAD 值，分析了原始光谱及连续统去除法处理后的光谱与SPAD 的相关性，并对连续统去除法处理后的光谱在350~1300 nm 范围内，计算了任意两波段组合而成的归一化植被指数(NDVI)、比值植被指数(RVI)和差值植被指数(DVI)等光谱指数。利用逐步回归和主成分分析法，提取主成分作为自变量，构建了估测SPAD 的支持向量机回归模型，并用第2 年采集的数据进行了验证。新建的3 类植被指数中，与SPAD 相关性最大的植被指数分别为NDVI(406，563)、RVI(406，565)和DVI(646，695)，相关系数(r)分别达到了0.677、0.690 和0.711。对支持向量机回归模型进行验证，预测集决定系数(PR2)达到了0.837，预测集相对误差(REP)为1.190%，预测集相对分析误差(RPDP)达到了2.213。连续统去除法及光谱指数均能提高光谱与果树冠层SPAD 的相关性，并且与SPAD 相关
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