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文件名称: 反射光谱拟合法确定聚合物半导体薄膜光学常数和厚度
  所属分类: 其它
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  上传时间: 2021-02-07
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:光学常数(折射率和消光系数)是聚合物半导体薄膜器件结构设计和性能优化的重要参数。借助于Forouhi-Bloomer (F-B)色散模型,通过拟合P3HT(聚3-己基噻吩):PCBM([6,6]-苯基-C61-丁酸甲酯)和MEH-PPV(聚[2-甲氧基-5-(2-乙基己氧基)-1,4-对苯乙炔]):PCBM 体异质结薄膜以及聚合物导电薄膜PEDOT(聚3,4-乙烯二氧噻吩):PSS(聚苯乙烯磺酸)的反射率,计算得到其光学常数和厚度,拟合得到的反射率曲线和实验曲线符合良好。厚度拟合结果与表面轮廓仪测量结果误差小于3%。基于该方法,进一步分析了热退火对P3HT:PCBM 薄膜表面形貌和光学常数的影响。研究结果表明,P3HT:PCBM 薄膜在110 ℃退火后,折射率在550~700 nm 波长范围内的峰值由1.95上升到2.16,同时,消光系数的峰值波长向长波长方向移动。
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