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采用放大的自发辐射光源测试光学薄膜的损伤阈值
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上传时间: 2021-02-05
详细说明：提出了一种精确评估光学薄膜损伤阈值的方法。放大的自发辐射（ASE）光源由于时间相干性和空间相干性较差，所以在近场区域光场强度分布均匀，聚焦后远场也没有被非均匀调制。采用ASE光束作为光学元件损伤阈值测试的辐照光源，可以提高辐照光源的均匀度，实现对光学薄膜损伤阈值的精确评估。ASE光源由神光II高功率激光装置的一级钕玻璃棒状放大器输出，脉宽经过光电开关调制后为9 ns，能量输出在几毫焦耳到几十焦耳范围内可调节，光谱半峰全宽（FWHM）为1 nm。根据标准ISO-11254，实验获得ASE测试TiO2高反膜的损伤阈值为15.1 J/cm2，高于激光测试样品的损伤阈值7.4 J/cm2（脉宽为9 ns时），更准确地评估了样品的损伤阈值。
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