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基于MSP430F42x的工业信号产生与测量仪表的设计
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上传时间: 2021-01-20
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这篇论文介绍了工业信号的产生与测量原理，主要研究了基于TI公司MSP430F42x的工业信号的产生与测量仪表的设计。
工业信号的产生与测量仪表在生产过程系统中是非常重要的检测仪表，可模拟输出多种工业控制过程测控中所需的检测信号，同时也可测量这些工业控制过程中产生的信号，其大量用于工业仪表的现场调校。
本设计的特点是保证测量精度的情况下使低功耗更低，成本更低。在信号测量部分，16位ADC保证了测量精度；在信号输出部分，电压信号和电流信号采用PWM方式产生。
本设计由两片MSP430F系列MCU组成，MSP430F425实现电压和电流信号的测量，而MSP430F4
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