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TC-08温度记录仪在光学薄膜激光量热吸收测试的应用
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文件大小: 253kb
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上传时间: 2021-01-20
详细说明：摘要：在激光系统中，光学薄膜的抗激光强度较低，这是光学薄膜研究中重要的问题之一。测量光学薄膜对强激光的热吸收 情况对于光学薄膜的性能研究具有重大意义，而TC-08是一款可靠灵活的温度记录仪。本文介绍了利用TC-08温度记录仪“接触式”地测试光学薄膜激光量热吸收的测试，大大地扩展了TC-08在光电行业的应用。
1 引言
光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器，它充斥着我们生活的方方面面，其性能的优劣直接影响产品的性能。光学薄膜对激光量的热吸收 是衡量光学薄膜性能的一个重要参数，特别是在强激光作用下，即使十分微弱的吸收也足以导
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