文件名称:
采用基于TI DLP?技术的结构光实现高3D扫描
开发工具:
文件大小: 188kb
下载次数: 0
上传时间: 2021-01-20
详细说明：前言
三维(3D)扫描是一种功能强大的工具，可以获取各种用于计量设备、检测设备、探测设备和3D成像设备的体积数据。当设计人员需要进行毫米到微米分辨率的快速高精度扫描时，经常选择基于TI DLP?技术的结构光系统。
3D扫描系统的诞生
简单的二维(2D)检测系统已经问世多年了，其工作机制通常是照亮物体并拍照，然后将拍摄图像与已知的标准2D参考件进行比较。 3D扫描则增加了获取体积信息的能力。引入z维数据可以测量物体的体积、平整度或粗糙度。对于印刷电路板(PCB)、焊膏和机加工零件检测等行业而言，测量上述附加几何结构特征至关重要，而这是2D检测系统无
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