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文件名称: 基于TS-900的PXI半导体测试系统解决方案
  所属分类: 其它
  开发工具:
  文件大小: 472kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2021-01-20
  提 供 者: weixin_********
 详细说明:半导体测试行业现状 电子行业正处于不断的压力下必须降低其制造成本。上市时间给半导体制造商很大的压力,在新产品投入市场后的很短时间内,利润是的,随后,由于竞争者开发了类似底价产品,利润水平开始下降。开发一个有效的节省费用的测试程序往往是阻碍新产品投入批量生产的瓶颈。 对于半导体供应商来说,其中测试成本一直被视为没有“增值”的成本。如图1所示,资本成本占IC平均销售价格(ASP)的百分比逐渐变小 - 从2001年的5%上升到2010年的约1%。然而,整体器件的ASP也在减少,意味着在成本方面,测试成本需要以与器件ASAP的减少相同或更大的速率降低,这使得测试工程师面临更大的
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)

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