文件名称:
可靠经济的LTE手机射频信道衰落测试解决方案
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文件大小: 144kb
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上传时间: 2021-01-20
详细说明：在任何实际移动通信网络中，基站与手机或其他用户设备(UE) 之间传输的信号，都会存在严重的信号质量下降问题。这是因为，信号传输有无数条路径，每条路径有不同的衰减值和相位差，接收的信号是这些多径信号的总和。这些多径信号积极的和破坏性的不同组合会产生衰落(fading)，信号路径质量下降可用 Rayleigh 系数表示。 随着蜂窝通信网络运营商逐步采用LTE，满足所有LTE要求的需求也在增长，其中包括衰落特性。第三代合作伙伴计划(3GPP) 在其TS 36.521-1标准中规定了衰落的技术规格，用以测量LTE手机的衰落特性。 传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源，通过常规射频测试
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