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解析G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据
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上传时间: 2021-01-20
详细说明：2010年11月9日消息，光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB.
而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验，在此情况下，绕的圈数环的半径和允许的弯曲损耗都应该选的与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。
单模光纤损耗主要包括内部的本征损耗和吸收损耗，同时也受加工绞合、铺设、接头等使用过程中的弯曲影响。随着光纤使用场合的扩大，特别是在局域网络及室内等复杂场合的广泛使用，有必要对光纤弯曲特性进行研究，以明确光纤弯曲特性。
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