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基于SRAM的FPGA连线资源的一种可测性设计
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文件大小: 629kb
下载次数: 0
上传时间: 2021-01-19
详细说明：1 引言
FPGA的出现大大缩短了集成电路设计的周期，使产品上市的时间大大缩短，并减少了设计成本。FPGA的应用越来越广泛，并且其市场份额也越来越大。但是逐渐扩大的芯片规模和更加复杂的芯片结构，给测试带来了越来越大的困难，测试成本大大增加，如何降低测试成本是很多商家和研究者共同面对的一个问题。有关FPGA测试的研究有很多。
FPGA主要由可编程逻辑资源，可编程连线资源，可编程输入输出资源组成。其中连线资源占芯片面积的60%以上，并且随着器件规模增大，连线也越来越复杂，其出现故障的可能性很大，所以连线资源测试在FPGA测试中扮演了一个很重要的角色。芯片测试包括故障检测、故障诊断和故障
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