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上传时间: 2021-01-19
详细说明：当对产品进行快速上下电测试时，若未能满足MCU的上下电要求，MCU往往会出现无法启动甚至锁死的问题。对于单电源供电的MCU来说，电路无需整改，本文推荐给您一颗LDO，可以解决MCU启动异常问题。
对于需要进行掉电保存或掉电报警功能的产品，利用大容量电容的储能作用，为保存数据和系统关闭提供时间，往往是很多工程师的选择。而在不需要掉电保存数据的系统中，为了抑制电源纹波、电源干扰和负载变化，在电源端也会并接一个适当容量的电容。
然而电路中电容并不是越大越好，由于电容的储能作用，大容量的电容则可能延长系统地上电时间和下电时间，而上下电时间的延长，则容易导致MCU启动失败或进入栓锁状态，因此
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