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探讨基于JTAG技术的嵌入式系统测试的各个阶段
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文件大小: 171kb
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上传时间: 2021-01-19
详细说明：引言
IEEE 1149.1边界扫描测试标准（通常称为JTAG、1149.1或“dot 1”）是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。为了更好地理解这种方法，本文将探讨在不同年代的系统开发与设计中是如何使用JTAG的，通过借助过去有关JTAG接入的经验或投入，推动设计向新一代发展。
大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1（JTAG）标准。如果系统采用的是复杂FPGA或CPLD,那么几乎可 以肯定这些硬件是通过JTAG端口设置的。如果系统利用仿真工具来调试硬件或软
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