文件名称:
基于BIST利用ORCA结构测试FPGA逻辑单元的方法
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文件大小: 175kb
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上传时间: 2021-01-19
详细说明：现场可编程门阵列FPGA（Field ProgrammableGate Array）是一种新型器件，它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体，因而受到广泛关注。FPGA 测试中，测试激励的多种测试生成方法，都有其一定局限性，不能求出所有故障，而且随着集成电路规模的迅速膨胀，电路结构也越来越复杂，大量的故障变得不可测。所以，人们把视线转向了电路系统的设计过程。如果设计的电路容易测试，容易找到测试码，对测试和测试码的生成问题就大大简化，这就是可测性设计问题。可测性设计问题的一个主要解决方法就是内建自测法BIST（Built-in self-test）。
FPGA可重复编程的特性
(系统自动生成,下载前可以参看下载内容)
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