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基于样品形貌的原子力显微镜实时扫描速度控制，以减少成像时间
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文件大小: 660kb
下载次数: 0
上传时间: 2021-03-23
详细说明：在此，提出了一种新颖的方法，用于光栅扫描调幅原子力显微镜（AM-AFMs）的实时扫描速度控制。 通常，在实验之前将成像速率设置为固定值，该值由每个成像点上的反馈控制计算确定。 为了提高AFM成像速率，已经进行了许多努力，包括使用具有高特征频率的悬臂，采用新的扫描方法以及优化其他机械组件。 所提出的实时控制方法根据每个成像点的误差来线性调整扫描速度，这主要取决于样品的形貌。通过合理设置每个成像点的停留时间，可以使AM-AFM的性能达到最佳。当扫描速度改变时，避免了扫描器振动，从而充分利用了振动。 进行实验和仿真以证明该控制算法。 这种方法可以将具有剧烈变化的形貌的样品的成像速率提高大约3倍，而不会牺牲任何图像质量，尤其是在大规模和高分辨率成像时，同时降低了对AM-AFM的专业要求由于控制策略采用线性算法根据误差信号计算扫描速度，因此该方法避免了扫描速度在高速和低速之间频繁切换。 而且它更容易实现，因为无需为其应用程序修改AFM的原始硬件。
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