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上传时间: 2010-09-28
详细说明： 建立了基于极差法统计学原理对发射光谱仪检出限、重复性和稳定性进行快速判断的方法，不需要数据录入即可轻松实现对计量指标的判定，有利于提高计量测试的效率，对类似仪器的快速判断也有借鉴意义。 A method was established to assess quickly the detection limits, short term stability and long term stability without inputting data step by step. It is helpful to improve the efficiency of chemical metrology, and helpful to similar evaluation of other instruments.
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