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文件名称: R.S.T (RAM STRESS TEST)内存检测
  所属分类: iOS
  开发工具:
  文件大小: 17kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2011-01-02
  提 供 者: aaaaaa******
 详细说明: 工厂检测内存条质量的软件Ram Stress Test,只要有一丁点问题,都能检查出来,推荐大家使用,各位一定 都碰到过,提示内存不能为 READ,或者WRITTEN的情况,很多时候都是软件问题,要解决他首先检查内存条的质量,然后再从软件去找问 题。这个软件是最专业的,比那个 MEMREST还好,只需要检查一边,好就是好,坏的就是坏的。这个软件确实很好,内存坏的话会显示红色,并 且报警。但是只能检测一代内存, 二代内存就需要微软的检测工具了。 Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试 程式,他其实是从其他的产品独 立出来的一项测试,该公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆 体生产业使用非常普遍,因为经 过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题,所以是非常好用的一个测试工具!!   使用非常简易,只要设定为软碟开机就行了,他是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于 x86系列,只要BIOS认的到的容量 他都能测!!  发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时, 记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上 述选项才能通过。   附件IMZ需要用winImage展开到软盘上,然后用此软盘启动系统。   附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。   程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测 试你CPU的L2 cache。 ☆ 可以测试SD及DDR内存。 ☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 依次代表内存条的8颗颗粒。 从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗 粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表 第7颗粒、8-F代表第8颗粒 ☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带 动它(可解决部分点不亮问题) 。必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。 ☆ 发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时, 上述选项才能通过。 ☆ 程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测 试CPU的 L2 cache。 ...展开收缩
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