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上传时间: 2009-08-22
详细说明： 本程序工作过程如下： ；1、开机后首先进行初始化，初始化后显示“P”1秒，提示系统进入测试工作状态，显 ； 示完成后，进行温度测试。 ；2、温度测试的过程是这样的： ； * T0置为计数方式，对T0脚（即P3.5）的脉冲计数，工作方式2，初值为255 ； * 将T1置为定时方式，工作方式2，初值为0 ； * 从P3.4口送单稳触发脉冲，使555输出单稳脉冲（正脉冲），该脉冲宽度随热敏 ； 电阻阻值而变化。 ； * 开T0、T1中断，启动T0、T1。此时T1自动对内部机器周期计数，当 TL1溢 ； 出时，产生T1中断。在T1中断处理程序中，将RAM 21H单元加1（即21H单 ； 元存放脉冲宽计数值高位）后返回主程序。 ； * 当来自P3.5的单稳脉冲结束（即下降沿到来）时，TL0计数器加1并溢出，产 ； 生T0中断。在T0中断处理程序中，关T0、T1中断，并将TL1中的的内容读 ； 到RAM 20H单元（20H单元存放脉宽计数值的低位）。 ； * 查表求温度值 ； NTTAB是脉宽计数值与温度的对照表，按低温到高温的次序存放，即第一、第 ； 二单元存放-100C时的脉宽计数值，依此类推，第121和122单元则存放+500C ； 时的脉宽计数值。 ； 将20H、21H中的计数值与NTTAB中的计数值依次进行比较，直至20H、21H ； 中的值小于NTTAB中的计数值为止。而比较的次数就对应温度的整数值，二计 ； 数值之差与对照表相邻两计数值的商即为小数位。 ...展开收缩
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