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文件名称: OTA测试手机的辐射性能
  所属分类: 专业指导
  开发工具:
  文件大小: 35kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2009-11-13
  提 供 者: hel****
 详细说明: CTIA 的OTA 测试指标直接反映了手机的辐射性能,因此越来越受到测试机构和相关厂商的重视。在手机天线指标判定时,需要将无源和有源性能指标综合考虑,对整机天线性能进行综合评价。   MORAB的OTA天线测试暗室符合CTIA的OTA测试标准,测试系统采用的SG24的近场折算远场测量方案,是目前最准确的天线测试方法。有重复性高,准确度高,解析度高等优点。SG24 是全球少数能完全符合CTIA 要求的测试系统。能提供CTIA 所需要的TRP/TIS 测试。测试适用范围:CTIA OTA (GSM900,DCS1800, Cellular 850,PCS1900);3D 天线场型测量、增益、天线效率、方向图、极化性能。 ...展开收缩
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