文件名称:
电子产品快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策分析-可靠性年会06
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文件大小: 326kb
下载次数: 0
上传时间: 2017-12-24
详细说明： 本文先就电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法进行了简要介绍，然后综合其他研究者的成果及笔者的实践经验针对快速瞬变脉冲群对电子产品不同影响特点提出了相应的对策方案，以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。
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