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文件名称: ARM JTAG 调试原理
  所属分类: 硬件开发
  开发工具:
  文件大小: 442kb
  下载次数: 0
  上传时间: 2009-03-27
  提 供 者: q4989*****
 详细说明: 这篇文章主要介绍 ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍,在此基础上,结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解 ARM JTAG 调试的网友们 有所帮助。我个人对 ARM JTAG 的理解还不是很透彻,在文章中,难免会有偏失和不准确的地 方,希望精通 JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖,有什么问题提出来,我一定尽力纠正。同时 也欢迎对 ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
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