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上传时间: 2018-03-06
详细说明： 本次报告主要以模拟电路发展的历史为轴线，分别对模拟电路在电子管时期，晶体管时期，以及集成电路时期相对应的的核心器件电子管、晶体管、运算放大器作了比较详细的介绍。在分立元件时期，主要介绍了点测法与图示法下，对晶体管的输入特性与输出特性曲线的测量。在集成电路时期，主要从建立模型的角度，分别介绍了运算放大器的输入失调电压测量，输入失调电流测量，以及压摆率测量。输入失调电压的测量中，介绍了开环下以及闭环下的两种测试方法。输入失调电流的测量中，从运放的输入差分级建立模型，分析了失调电流产生的机理，以及测试方法。压摆率的测量中，分别从运放层次与晶体管层次建立模型，详细分析了大信号下运放输出电压摆率受限的原因，并给出了测试方法。
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