文件名称:
ESD Protection in CMOS ICs
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文件大小: 6mb
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上传时间: 2018-12-20
详细说明： 靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多 數的電子元件或電子系統受到過度電性應力(Electrical Overstress EOS)破壞的主要因素。這種破壞會導致半導體 元件以及電腦系統等，形成一種永久性的毀壞，因而影響 積體電路(Integrated Circuits, IＣs)的電路功能，而使 得電子產品工作不正常。 而靜電放電破壞的產生，多是由於人為因素所形成，但又很難避免。電子元件或系統在製造、生產、組裝、測試、存放、搬運等的過程中，靜電會累積在人體、儀器、儲放設備等之中，甚至在電子元件本身也會累積靜電，而人們在不知情的情況下，使這些物體相互接觸，因而形了一放電路徑，使得電子元件或系統遭到靜電放電的肆虐。
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