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上传时间: 2019-01-29
详细说明： AEC-Q100 是基于集成电路应力测试认证的失效机理的标准，它包含以下12个测试方法： ¶ AEC-Q100-001 邦线切应力测试 ¶ AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 ¶ AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 ¶ AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 ¶ AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 ¶ AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 ¶ AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 ¶ AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR） ¶ AEC-Q100-009
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