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上传时间: 2019-03-01
详细说明: 本书系统介绍超大规模集成电路(VLSI)的测试方法学和的可测性设计,为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础,也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论,数字电路的描述和模拟方法,组合电路和时序电路的测试生成方法,专用可测性设计,扫描和边界扫描理论,IDDQ测试,*和伪*测试原理,各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系,与MY邓列相关的其他测试生成方法,内建自测度原理,各种数据压缩结构和压缩关系,专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。 本书既可作为人一集成电路设计、制
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