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上传时间: 2020-05-09
详细说明：华为硬件可测性设计规范1范围
2定义
3功能测试可测性设计规范3.1功能测试装备原理说明
3.2 单板功能测试可测性设计
3.2.1机械结构的可测性设计
3.2.2自检和自环
3.2.3测试夹具
3.2.4其他
4 ICT可测性设计规范
4.1机械设计规范
4.1.1测试点
4.1.2 Tooling Holes
4.1.3两个测试点中心间隔
4.1.4测试点到其它物体的间距
4.1.5焊锡面元件高度
4.1.6其他
4.2电路设计规范
4.2.1芯片的控制引脚
4.2.2反馈环路
4.2.3边界扫描设计
4.2.4 NAND-Tree
4.2.5 FPGA和EPLD设计
4.2.6在线编程
4.2.7减少测试点的方法
4.2.8其他
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