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SENSEI：表面运行对Sub-GeV暗物质的第一个直接检测约束
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文件大小: 506kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-05-04
详细说明：次电子噪声Skipper CCD实验仪器（SENSEI）使用最新开发的Skipper-CCD技术，从次GeV暗物质粒子与硅中电子的相互作用中寻找电子反冲。 我们报告了原型SENSEI检测器的第一个结果，该检测器在费米国家加速器实验室的地面上收集了0.019 g天的调试数据。 这些调试数据足以为质量在约500 keV和4 MeV之间的暗物质粒子设置新的直接检测约束。 此外，由于这些数据是在表面上获取的，因此它们不利于先前允许质量约为500 keV至几百MeV的强相互作用暗物质粒子。 我们讨论了这些数据对几种暗物质候选物的影响，其中包括一种模型，旨在解释EDGES协作观测到的异常大的21厘米信号。 SENSEI是第一个致力于从暗物质中搜索电子反冲的实验，这些结果证明了Skipper-CCD技术在暗物质搜索中的强大作用。
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