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N = 5、6、7、8：嵌套假设检验和| Vcb |的截断相关性
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文件大小: 610kb
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上传时间: 2020-05-03
详细说明：| Vcb |的确定 B→D *ℓν唯一的半轻子衰变对形状参数参数化的选择很敏感。 |更大| Vcb | 通过将Boyd-Grinstein-Lebed（BGL）与Caprini-Lellouch-Neubert（CLN）参数化拟合为最近的Belle测量，可以得到这些值。 对于BGL参数化，已发布的拟合使用不同数量的参数。 我们提出了一种基于嵌套假设检验的方法，以确定适合数据的最佳BGL参数数量，并发现六个参数最适合适合Belle标签和展开的测量[1]。 我们进一步探索使用不同数量参数的拟合之间的差异。 产生| Vcb |的拟合 与包容性半轻子衰变的测定结果更好地吻合的值倾向于表现出具有强烈
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