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通用额外尺寸中规格顶点的重归一化和紫外线敏感性
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上传时间: 2020-04-18
详细说明：在具有压缩的额外尺寸的模型中计算辐射校正时，必须对回路内部的整个Kaluza-Klein激发塔进行求和。 环路校正会在零模式规范玻色子的耦合强度与其Kaluza-Klein激发的耦合强度之间产生差异，尽管两者都源于相同的高维规范相互作用。 此外，这种差异通常取决于极限尺度和关于超维理论的UV完成的假设。 在本文中，将在最小通用额外维度模型（MUED）的背景下详细研究这些影响。 截止尺度相关性的广泛特征可以通过五维空间中的功能流方程的解来捕获。 但是，由于额外尺寸的压缩，显式的图解计算显示出一些修改。 然而，当施加物理重归一化条件时，人们发现有效的Kaluza-Klein规范玻色子顶点的UV敏感
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