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在VEPP-2000对撞机上使用SND检测器测量e + e-→ηπ+π-横截面
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文件大小: 308kb
下载次数: 0
上传时间: 2020-04-10
详细说明：e + e-→ηπ+π-横截面是在球形中性检测器（SND）检测器上以η衰减模式η→3π0进行测量的。 该分析基于在质量中心能量范围s = 1.075–2.000 GeV处在VEPP-2000 e + e-对撞机上收集的具有32.7 pb-1的综合亮度的数据样本。 发现在η→3π0衰减模式下获得的数据与先前在η→γγ模式下的SND测量结果一致。 因此，将两种模式下的测量结果结合在一起。
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