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NA60中η→μ+μ−γ和ω→μ+μ−π0电磁跃迁形状因数和ρ→μ+μ−线形的精度研究
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上传时间: 2020-03-26
详细说明：NA60实验研究了在CERN SPS上使用400 GeV质子束在质子-核（pA）碰撞中产生的低质量介子对。 低质量dimuon光谱由光中性介子α，，，，，和的两体和达利兹衰变的叠加很好地描述，并且没有中等强度的证据 发现效果。 对α和Ï的电磁跃迁形状因数进行了新的高精度测量，从比外围设备In–In先前由NA60收集的样本大10倍的数据样本中受益。 使用极点参数化| F（M）| 2 =（1MM2 /α› 2）we2我们发现›α2= 1.934±0.067（stat。）±0.050（ syst。）（GeV / c2）2和Ï› 2 = 2.223±0.026（stat。）±0.037（syst。）
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